颗粒粒形

超越颗粒粒度测量

颗粒粒度外,颗粒粒形同样对许多颗粒材料的性能及工艺处理具有显著的影响。

Malvern Panalytical 颗粒表征系统的图像分析系列可对干湿法分散样品的颗粒粒形进行测量,量程自 0.5 微米至几毫米。 

应用

使用颗粒粒形测量改善产品性能的应用包括:

  • 片剂与悬浮液中药物颗粒的生物利用率
  • 金属及陶瓷烧结元件中的材料强度
  • 墨粉与焊接膏的印刷质量
  • 色谱柱的填装行为
  • 矿物基涂层中的涂饰质量
  • 太阳能板制造用SiC磨料的切割性能

纳米级颗粒

小角 X 射线散射 (SAXS) 测量可用于调查纳米级颗粒的粒形。 

此测量类型可确定生物大分子的(低分辨率)包络形状。当材料包含纳米长度尺度(通常在 1-100 nm 范围内)的结构特征时,就会观察到 SAXS 信号。

SAXS 是纳米材料结构表征应用最广泛的技术之一。 

动态成像

想要搭配使用激光衍射与动态成像? 

了解 Mastersizer 系列的动态成像附件 Hydro Insight

Hydro Insight 是一款动态图像附件,提供丰富的深入洞见,除了颗粒粒度分布外,还包括颗粒图像和定量颗粒粒形数据。 

Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列

Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列

自动成像颗粒表征技术

Empyrean Nano 版

Empyrean Nano 版

多功能 X 射线散射平台

测量类型
颗粒形状
粒子大小
粒度范围 0.5µm - 1000µm 1 - 100 nm
技术类型
图像分析
X 射线散射